_{晶體阻抗計}

晶體阻抗計（晶振測試儀）是一種專業(yè)的晶振測試設備，主要測試無源晶振相應的電參數。采用π型網絡零相位法實現串聯諧振頻率的測量，采用直接阻抗法來測試負載諧振頻率和負載電容，它測量精度高，速度快。具有串聯諧振頻率Fs、負載諧振頻率FL、串聯諧振電阻Rs、負載諧振電阻RL、負載電容CL、動態(tài)電容C1、動態(tài)電感L1、品質因數Q、靜電容C0、頻率牽引力Ts等參數測量功能，負載電容在1-100P范圍內任意編程設置，從滿足不同負載電容的晶振測試，智能網絡分析技術運算克服了市場上晶振測試設備使用實體電容法測試精度差，無法測試電參數的缺點、解除了手工校對的麻煩，讓晶振測試變得更輕松。

發(fā)展歷史

晶振測試主要方法主要經歷了早期的晶體阻抗計，到目前主流的網絡分析儀方案。早期的晶體阻抗計檢定依據為JJG(電子) 05053-1995 晶體阻抗計檢定規(guī)程，代表產品有安捷倫HP4915A/4916A，S&A 150等；經歷了約20年的發(fā)展，2023年國際公認的測試方法為網絡分析儀測試方案，依據標準為GB∕T22319.11-2018/IEC 60444-11:2010《石英晶體元件參數的測量第11部分：采用自動網絡分析技術和誤差校正確定負載諧振頻率和有效負載電容的標準方法》，典型產品有智慧源的GDS-80系列等。

工作原理

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晶振測試儀GDS-80系列采用π型網絡零相位法實現串聯諧振頻率的測量，采用直接阻抗法來測試負載諧振頻率和負載電容，它測量精度高，速度快。具有串聯諧振頻率Fs、負載諧振頻率FL、串聯諧振電阻Rs、負載諧振電阻RL、負載電容CL、動態(tài)電容C1、動態(tài)電感L1、品質因數Q、靜電容C0、頻率牽引力Ts等參數測量功能。

功能配置

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自動測試功能；

超值報警功能

上位機軟件通信功能

尺寸參數

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250*280*150mm

產品特點

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1. 中心頻率范圍： 10KHz-200KHz,1MHz-200MHz任意設定

2. 掃描范圍：±1000ppm（默認±400ppm）

3. 負載電容：1-100P 任意設定

4. 串聯諧振頻率Fs測量范圍：±1000ppm（默認±400ppm） 測量精度：±5ppm

5. 串聯諧振電阻Fr：1MHz-100MHz：1Ω-1000Ω （2±10%*R Ω）

10KHz-200KHz：10K-300K （2±10%*R KΩ）

6. 負載電容CL測量范圍：1-200PF

7. 時基誤差：±1ppm

8. 負載諧振頻率FL測量精度：±5ppm+時基誤差+0.5Pf*頻率牽引力Ts

注意事項

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1.設備需要定期進行PI網絡校準

2.設備需要定期進行頻率校準