J.A.Woollam光譜型橢偏儀電源維修M-2000XI

M-2000系列光譜橢圓儀是為滿足薄膜表征的需求而設(shè)計的。RCE技術(shù)結(jié)合了旋轉(zhuǎn)補償器橢圓儀和CCD檢測，在幾分之一秒內(nèi)收集整個光譜（數(shù)百個波長），并有多種配置。擅長于從原位監(jiān)測和過程控制到大面積均勻性繪圖和通用薄膜表征的橢偏儀。光譜檢測RCE設(shè)計與CCD檢測兼容，可同時測量波長。光譜范圍采集從紫外線到近紅外的700多個波長同時采集。 適合直接連接到您的工藝室或配置在我們的桌面底座上，進行準確的橢圓測量。

美國J.A.Woollam光譜橢圓儀電源維修；M-2000旋轉(zhuǎn)補償橢偏儀高壓發(fā)生器維修。

應(yīng)用范圍材料：半導(dǎo)體、電介質(zhì)、聚合物、金屬、多層等。

可選光譜范圍：

V型 370－1000nm

U型 245－1000nm

D型 193－1000nm

紅外擴展 1000－1700nm

可選變角：手動連續(xù)可變；自動連續(xù)可變

微光斑選件：25×60微米

光譜型橢偏儀維修類型如下：

1、M-2000 光譜型橢偏儀

無論是科研還是工業(yè)生產(chǎn)，M-2000都可以滿足您的需求，多樣的配置選項滿足不同用戶的要求。旋轉(zhuǎn)補償技術(shù)確定Delta的準確測量，CCD列陣的使用使全光譜掃描可在幾秒中內(nèi)完成。

2、Alpha-SE 光譜型橢偏儀

α-SE是一款高性價比的光譜型橢偏儀。簡約設(shè)計，理想的薄膜分析工具。計算機通過通訊口控制儀器、數(shù)據(jù)采集。配置易用的數(shù)據(jù)分析軟件，易于使用，帶有選項的按鈕式操作軟件技術(shù)，基于旋轉(zhuǎn)補償技術(shù)，十秒內(nèi)完成180個波長的測量及數(shù)據(jù)的擬合 功能強 提供厚度、光學(xué)常數(shù)、表面粗糙、界面層等數(shù)據(jù)應(yīng)用范圍，適用于可見光譜段薄膜的研究及日常工藝控制。