以其超高分辨率和出色的成像能力著稱。無論是納米級別的材料結構分析，還是微觀形貌的精細表征，Helios400/450 都能提供清晰、準確且極具細節(jié)的圖像信息。在半導體芯片研發(fā)、材料科學研究等領域，它能夠助力科研人員深入探究微觀世界的奧秘，為技術創(chuàng)新提供有力的數據支持。
FEI 掃描電鏡Helios400/450
- 發(fā)布時間：2025-10-29 15:58:18,加入時間:2025年04月15日(距今316天)
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