3秒完成全項檢測！東莞路登科技SD卡測試治具開啟量產質檢新時代
面對TF/SD/microSD等多規(guī)格存儲卡的兼容性測試難題， 東莞路登科技推出 第五代全自動測試治具：
1、 一機通測：可替換式卡槽模組，適配從SDXC 4.0到UHS-II所有協(xié)議，切換時間＜10秒；
2、 極速驗證：集成USB3.2+PCIe雙接口，讀寫/壞塊/耐久測試同步進行，單卡完整檢測僅需3秒；
3、 工裝品質：合金鋁材機身配合陶瓷觸點，插拔壽命超50萬次，通過-40℃~85℃極端環(huán)境認證。
已助力多家企業(yè)將不良品漏檢率降至0.005%，并支持定制化測試腳本開發(fā)。
