高速多通道信號發(fā)生器在LVDS to T-CON(時序控制器)及中大尺寸顯示屏驅動芯片的測試解決方案_Introspect Tx/Rx LVDS測試解決方案（支持共模電壓調整，+-4.5% Modulation rate）

是關于Introspect T-CON及LVDS測試解決方案的產品資料及主要功能介紹，目前Introspect的產品已經廣泛應用在很多DDIC及芯片的廠商用于T-CON多通道等產品測試驗證上。

Introspect SV1C/SV3C系列產品五大亮點:

1.每個通道具備獨立注入抖動能力

2.每個通道具備調整Skew能力

3.可調整共模電壓幅值(VCOM)

4.可編程客制化碼型

5.可完全取代泰克DTG 5334,并具體積小,備極佳的價格優(yōu)勢