美國博曼BA-100 M系列是毛細管結構，15umFWHM可以測量FPC或半導體行業(yè)，很薄鍍層，以及鍍層，測量光斑小，測量精度小于１％。

美國博曼M系列X射線測厚儀原理：

X 射線熒光：入射X射線光子轟擊內(nèi)層電子，將電子逐出原子形成空穴，由外層電子來填充這個空穴。高能量的電子來填補逸出的電子（空穴），兩層軌道的能量差以二次X射線光子釋放，產(chǎn)生熒光。Moseley（莫斯萊）發(fā)現(xiàn)熒光 x 射線的能量與原子序數(shù)有關 E=K (Z-C)2 ，每個元素的熒光都有自己的能量成為特征 X 射線。BowmanX 射線裝置利用 X 射線熒光原理測量鍍層和成份。樣品被來自射線管的射線轟擊，產(chǎn)生熒光。通過熒光的能量我們可以知道樣品中存在哪些元素，通過 XRF 的強度我們可以樣品的厚度及每個元素的成份。X 射線人眼是看不見的。需要設備將 X 射線轉換成我們可以理解和處理的信號以便我們可以從 x 射線中提取信息。此設備稱為探測器。探測器與數(shù)字脈沖器（將 x 射線轉為電信號）。

M系列毛細管鍍層測厚儀優(yōu)勢：

1、更小的特征測量

毛細聚焦管光學元件的光束尺寸小于100μm，因此可以測量微電子設備、高級電路板、連接器、引腳框架和晶片的超精細特征。它可以測量傳統(tǒng)準直器無法測量的區(qū)域。

2、更薄的鍍層測量

XRF分析儀裝有毛細聚焦管，能將更多的X射線管輸出聚焦到樣品上，從而測量納米級的鍍層。

3、更高的測試量和更高的置信度（測量時間更短，準確性與重復性精度更高）

光學器件產(chǎn)生的更大強度帶來更高的計數(shù)率。在XRF中，更高的計數(shù)率意味著更高的精度和更快的結果。這可以在任何給定時間段內(nèi)進行更多的測量且得到置信度更高的結果，從而實現(xiàn)更好的質(zhì)量控制和更緊密的生產(chǎn)。

4、更容易符合指標

XRF在確定和控制飾面處理厚度過程中的使用可通過用于ENIG（化學鍍鎳/浸金）和ENEPIG（化學鍍鎳/化學鍍鈀/浸金）分析的性能指標IPC-4556來實現(xiàn)，這些測試必須證明在確定公差范圍內(nèi)的性能水平。使用毛細聚焦管更易實現(xiàn)這一性能水平。

博曼BA-100 毛細管鍍層測厚儀儀器能力：

l可完成鍍層厚度測量、元素分析、電鍍液分析

l最多同時測量5層（4層鍍層+底材），每層可同時分析10種元素

l成分測量可同時分析25種元素

l元素范圍從鋁（13）到鈾（92）

l厚度范圍從低至1nm（納米）到超過100um（微米）

l符合ISO3497、ASTM B568標準測試方法

l滿足IPC-4552A、4553A、4554 和 IPC4556 標準  注：具體應用的測量范圍及精度，以廠家確認的規(guī)格為準。